一、您的挑战

1.找到值得信赖的设备来源，满足所有光测试需求

2.在现有的测量设备中引入全自动的新测试功能

3.找到实惠、灵活、可重构的工具，构建适应性强的测试解决方案

4.通过面向未来的测量技术，满足不断涌现的光测试要求

5.解决缺少1G到400G各种网络协议测试解决方案的问题

二、描述：

光研发实验室是推动各种网络技术不断涌现的力量。从单个的光器件开发到模块集成与系统验证，值得信赖的测试与测量解决方案对任何研发机构都必不可少。 虽然主要设计用于电信应用，但同样的测试设备也经常可用于更多的非电信光测试与测量目的。 EXFO提供一系列面向未来的测试设备，以满足各个光研发实验室从高带宽通信到各种科研应用的光测试需求。

三、相关产品介绍

1.CTP10器件测试平台（性能强大的无源光器件测试平台，适用于测试WDM器件和光子集成电路）

主要功能和优点：

1.使用扫频技术进行光损耗（IL、PDL和RL）与光电流测量

2.业内率先支持全波段PDL测量，覆盖从1260 nm到1620 nm的波长

3.集高动态范围、高精准度、亚皮米级分辨率和高测试速度于一身

4.集成的解决方案，配备GUI，并内置分析功能

5.采用可扩展的架构，适用于研发和制造环境

6.两种工作模式：使用专用模块进行的光学触发/使用日志记录功能进行的电气触发

应用：

1.亚皮米级分辨率的集成光子器件光谱鉴定

2.制造和研发环境中的多输出无源光器件测试

3.WSS和ROADM校准与测试

4.薄膜滤波器（TFF）鉴定

5.瞬态现象日志记录功能

6.使用来自可调谐激光器的电气触发器进行光谱鉴定

2.CT440/CT440-PDL - 无源元器件测试仪

紧凑的测试仪，用于快速、精准地鉴定无源光器件（复用器/解复用器、滤波器、分光器等）和模块 （ROADM、WSS）。覆盖从1240到1680 nm的频谱范围，可在整个电信波段上进行测量。借助PDL选件，可同时测量插损和偏振相关损耗。

主要功能：

1.快速测量变换函数（插损） 

2.波长范围：1240 - 1680 nm（SMF型号） 

3.PM和PDL选件 

4.波长分辨率：1至250 pm 

5.波长精准度：±5 pm 

6.动态范围：单次扫描时65 dB 

7.最多可结合4个可调谐激光器（SMF型号） 

8.配备四个内部检测器，可通过同步进行扩展 

9.19英寸机架支持1U版本

3.EXFO XTA-50带宽可调节的可调滤波器（ 1620-1650n范围、边缘清晰隔离度高）

主要功能：

1.带宽可调节的平顶滤波器 

2.滤波器边缘非常清晰 

3.隔离度高 

4.200 nm波长范围 

5.精度和可重复性高 

6.窄带滤波器——可选择性非常高

应用： 

低色散、陡峭边缘和高隔离度意味着可以轻松地将DWDM通道，甚至是间隔低至10 GHz的相干超级通道分开。BER测试变得前所未有的轻松惬意！ 

可变OSNR的光源通常由ASE光源和可变衰减器组成。XTA-50的平顶可调节带宽可为所有DWDM波长提供一致的噪声负载。 

XTA-50非常适合对复杂调制格式的子带进行滤波和分析。

4.EXFO FTBx-9160 MEMS光开关 提供单模最高1×32模块配置 EXFO光开关

主要功能：

1.提供单模1×N模块配置，最高1×32 

2.切换迅速，所需时间< 30 ms 

3.提供多种连接器选件

FTBx-9160可与LTB-2、LTB-8、LTB-12或FTB-4 Pro平台结合使 用：EXFO的平台可高度扩展，在测试中不需要停机或中断便可以进行热插拔（FTB-4 Pro除外），从而大幅提高效率。

青岛法特科技有限公司为国内EXFO一级代理，为您提供EXFO各类通信解决方案。